Книга: Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики
Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике.
Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 «Электроника и микроэлектроника», магистерским образовательным программам «Нанотехнология и диагностика», «Нано- и микросистемная техника» и 210600 «Нанотехнология». Также может служить для повышения квалификацииЬпреподавателей и научных работников.
Информация о документе
- Формат документа
 - Кол-во страниц
 - 82 страницы
 - Загрузил(а)
 - Лицензия
 - —
 - Доступ
 - Всем
 
Информация о книге
- ISBN
 - 9785762909808
 - Издательство
 - СПбГЭТУ «ЛЭТИ»
 - Год публикации
 - 2009
 - Каталог SCI
 - Нанотехнология
 - ББК
 - 33. Горное дело
 
Статистика просмотров
Статистика просмотров книги за 2025 год.