Статья: АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ АМОРФНЫХ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКИХ СПЛАВОВ FE(NI, CU)(SIB)

Методами атомно-силовой микроскопии изучена поверхность образцов аморфной электротехнической стали (фольги) Fe(Ni, Cu)(SiB) толщиной около 100 мкм, шириной 10 мм, длиной 50 мм, которая была получена методом сверхбыстрого охлаждения при распылении расплава на вращающемся барабане. На контактной поверхности фольги обнаружены характерные структурные элементы, наличие которых в различных местах поверхности может существенно влиять на электротехнические свойства материала.

Информация о документе

Формат документа
PDF
Кол-во страниц
1 страница
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем
Просмотров
1

Предпросмотр документа

Информация о статье

ISSN
2078-7707
Журнал
ПРОБЛЕМЫ РАЗРАБОТКИ ПЕРСПЕКТИВНЫХ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ (МЭС)
Год публикации
2022
Автор(ы)
Каминская Т. П., Шипко М. Н., Степович М. А., Попов В. В., Тихонов А. И.