Книга: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. В 2-х книгах. Книга 1.
В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей.
Информация о документе
- Формат документа
 - PDF, DJVU
 - Кол-во страниц
 - 305 страниц
 - Загрузил(а)
 - Лицензия
 - —
 - Доступ
 - Всем
 
Информация о книге
- Издательство
 - Издательство Мир
 - Год публикации
 - 1984
 - Библиографическая запись
 - 
                            
Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э.
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х книгах. Книга 1. Пер. с англ. — М.:
Мир, 1984.— 303 с, ил. - Каталог SCI
 - Электроника
 
Статистика просмотров
Статистика просмотров книги за 2025 год.