Книга: Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
Информация о документе
- Формат документа
 - PDF, DJVU
 - Кол-во страниц
 - 224 страницы
 - Загрузил(а)
 - Лицензия
 - —
 - Доступ
 - Всем
 
Информация о книге
- ISBN
 - 9785020348110
 - Издательство
 - ИЗДАТЕЛЬСТВО НАУКА
 - Год публикации
 - 2007
 - Библиографическая запись
 - 
                            
Батаев В. А.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов. - 2-е изд. - М.: Флинта: Наука, 2007. - 224 c.
ISBN 978-5-9765-0207-9 (Флинта)
SBN 978-5-02-034811-0 (Наука)
 - Каталог SCI
 - Машиностроение
 
Статистика просмотров
Статистика просмотров книги за 2025 год.