SciNetwork

Ключевая фраза: atomic force microscopy

Ниже приведен список материалов, найденных в базе данных SciNetwork, с ключевым словом «atomic force microscopy».
Статьи: 2
01.Влияние вакуумного отжига на электрические свойства кристаллов 6H-SiC (2020)
Сохранить в закладках
Журнал:
Прикладная физика
Автор(ы):
Гаджимагомедов С. Х., Муслимов А. Э.
02.Способ утонения обратной стороны матричного модуля InSb (100) и его влияние на кристаллическую структуру приповерхностных слоев (2020)
Сохранить в закладках
Журнал:
Прикладная физика
Автор(ы):
Мирофянченко А., Попов В.
SciNetwork