Архив статей журнала
Дефекты и неисправности радиоэлектронных средств, обусловленные сложностью конструкции и трудоемкостью технологических процессов их производства, неизбежны на современном этапе развития электронной промышленности, поэтому задачи технического диагностирования производимых устройств остаются актуальными и в настоящее время. На сегодняшний день разработаны и успешно применяются различные методы контроля и диагностики, и один из них - это ударная диагностика. В основе метода - исследование реакции узла (функции отклика) на возмущающие ударные воздействия. Показано, что для определенных групп отказов РЭС наиболее информативным для исследования является именно ударное воздействие, которое позволяет однозначно идентифицировать дефект электронного средства по изменению характеристик его выходного сигнала. В работе приведены результаты исследования по определению параметров эффективного задающего воздействия с целью получения однозначной реакции электронного узла при наличии в нем дефектов определенного рода.
Задача оптимизации размещения элементов на печатных узлах электронных средств является очень важной задачей в процессе технического проектирования для обеспечения качества и надежности электронных средств. Оптимизированное размещение электронных компонентов на печатной плате (PCB) требуется для удовлетворения многих противоречивых целей проектирования, поскольку большинство компонентов имеют разные значения рассеиваемой мощности, рабочей температуры, характеристики материала и размеры. Для решения данной задачи применялись современные пакеты автоматизированного проектирования и инженерного анализа с целью анализа и обеспечения оптимальной температуры в поле переключения. Кроме того, при проектировании электронных устройств большое внимание было уделено использованию технологий искусственных нейронных сетей и разработан алгоритм решения задач проектирования. Направление развития данного исследования является представление и усовершенствование алгоритма размещения элементов на печатном узле электронного средства, решения многокритериальной задачи проектирования электронных устройств и полной оценки факторов, влияющих на надежность электроники в целом.